고온으로 인한 자동차 칩 노화 가속화, 안전 문제 우려

최근 연구에 따르면 고온 환경에서 자동차 칩의 노화 속도가 예상보다 훨씬 빠르게 진행되어 전기 자동차의 수명을 단축시키고 새로운 안전 문제를 야기할 수 있는 것으로 나타났습니다. 애리조나 주 피닉스와 같이 고온이 수주일 지속되는 지역에서는 차량 내부 온도가 93℃에 달할 수 있으며, 이는 칩 수명에 심각한 영향을 미칩니다. 연구 결과에 따르면 30년 수명으로 설계된 칩의 경우 고온으로 인해 매년 수명이 10% 추가로 감소합니다. 칩 제조업체는 이 문제를 해결하기 위해 신소재, 설계 중복성, 능동 냉각 시스템 등의 대책을 마련하고 있습니다. 자율 주행의 확산으로 인한 칩 사용률 증가 또한 노화 문제를 악화시키고 있습니다. 예방적 모니터링과 고장 예측 분석이 필수적이며, 차량의 신뢰성과 안전성 모두에 영향을 미칠 것입니다.