Impacto de temperaturas extremamente baixas no tamanho e desempenho da matriz SRAM de 5 nm

Uma nova pesquisa explora os efeitos de temperaturas extremamente baixas (até 10 K) no tamanho e desempenho de matrizes SRAM FinFET de 5 nm. Os pesquisadores descobriram que, em temperaturas criogênicas, o tamanho máximo da matriz é limitado por parasitas de linha de palavra, não por corrente de fuga, e o desempenho é governado por parasitas de linha de bit e linha de palavra. Isso tem implicações significativas para a computação de baixo consumo e alto desempenho no futuro, oferecendo insights valiosos para otimizar matrizes SRAM em ambientes extremamente frios.