高温加速汽车芯片老化，引发安全隐患
2024-12-18
最新研究表明，高温环境下汽车芯片老化速度远超预期，这不仅缩短了电动汽车的使用寿命，还可能引发新的安全问题。尤其是在像亚利桑那州凤凰城这样夏季高温持续数周的地区，车内温度可能高达93°C，严重影响芯片寿命。研究发现，对于设计寿命为30年的芯片，高温会每年额外减少10%的寿命。芯片制造商正在努力应对这一挑战，这需要采用新型材料、增加冗余设计以及主动散热等措施。此外，随着自动驾驶技术的普及，芯片的利用率提高，也加剧了老化问题。未来，主动监控芯片状态并预测故障将成为关键，这不仅关系到汽车的可靠性，也关乎其安全性。