첨단 패키지의 열 문제 테스트가 점점 어려워지고 있습니다.
2024-12-21
고성능 재료 채택과 함께, 칩 아키텍처의 복잡성과 이종 통합 증가로 인해 첨단 패키지의 열 문제를 식별하고 테스트하는 것이 상당히 어려워지고 있습니다. 칩 레벨의 열 효과 예측 불가능성과 다양한 작업 부하 하에서의 열 분포 차이로 인해 기존 코너 기반 열 테스트는 부족합니다. 이종 통합, 더 얇은 기판과 금속 층, 다양한 재료와 상호 연결 방식의 조합이 이러한 복잡성을 더욱 악화시키고 있습니다. 이러한 과제를 해결하기 위해 업계에서는 더욱 정확한 열 특성 분석과 신뢰할 수 있는 장치 테스트를 위해 고급 열 모델링, 테스트 구조, 적응형 테스트 전략 및 AI를 모색하고 있습니다.