Impacto de temperaturas extremadamente bajas en el tamaño y el rendimiento de la matriz SRAM de 5 nm
2025-01-24
Una nueva investigación explora los efectos de temperaturas extremadamente bajas (hasta 10 K) en el tamaño y el rendimiento de las matrices SRAM FinFET de 5 nm. Los investigadores descubrieron que, a temperaturas criogénicas, el tamaño máximo de la matriz está limitado por los parásitos de línea de palabra, no por la corriente de fuga, y el rendimiento se rige por los parásitos de línea de bit y línea de palabra. Esto tiene implicaciones significativas para la computación de bajo consumo y alto rendimiento en el futuro, ofreciendo información valiosa para optimizar las matrices SRAM en entornos extremadamente fríos.
Hardware
temperaturas criogénicas