極低温が5nm SRAMアレイのサイズと性能に与える影響
2025-01-24
新たな研究が、極低温（10Kまで）が5nm FinFET SRAMアレイのサイズと性能に与える影響を調査しています。研究者らは、極低温下では、アレイの最大サイズはリーク電流ではなくワードライン寄生効果によって制限され、性能はビットラインとワードラインの寄生効果によって決まることを発見しました。これは、将来の低消費電力、高性能コンピューティングにとって大きな意味を持ち、極低温環境下でのSRAMアレイの最適化に関する貴重な知見を提供します。
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