X射线技术助力钻石探测

弗劳恩霍夫集成电路研究所开发了一种利用双能X射线技术探测钻石的新方法。该技术通过使用两种不同的X射线光谱对同一物体成像，并利用算法过滤掉两种图像中有关材料的数据，从而以极高的可靠性识别不同的物质。与传统方法相比，该技术能够探测到隐藏在岩石内部的钻石，而无需将岩石破碎，具有更高的效率和安全性，未来有望应用于工业钻石筛选和其他材料识别领域。