강유전성 고분자 기반 메모리스터를 이용한 서브픽셀 모션 검출

연구원들은 서브픽셀 모션 검출을 위해 용액 공정으로 처리된 강유전성 P(VDF-TrFE) 박막을 사용한 새로운 강유전성 랜덤 액세스 메모리(FeRAM)를 개발했습니다. 이 FeRAM은 수동적인 크로스바 어레이 커패시터를 기반으로 하며, 강유전성 도메인의 비선형 동역학을 이용하여 기생 경로 문제를 효과적으로 제거합니다. 제어된 전기장 극성을 통해 강유전성 도메인을 전환함으로써, 시스템은 이미지 정보를 저장하고 처리하여 이미지 차이를 직접 추출합니다. 이를 통해 수학 함수의 미분 계산이나 이동 물체 식별과 같은 애플리케이션이 가능합니다. 이 시스템은 높은 정확도, 낮은 전력 소비, 추가 메모리 유닛이 필요 없다는 등의 장점을 가지고 있으며, 비디오 감시 및 결함 검출과 같은 애플리케이션에서 큰 가능성을 보여줍니다.
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