Nukleare EMP: Überleben Ihre Elektronik?

Dieser Artikel untersucht die zerstörerischen Auswirkungen elektromagnetischer Impulse (EMPs), die durch Nuklearexplosionen erzeugt werden, auf elektronische Geräte. Hochgelegene Nuklearexplosionen erzeugen weitreichende EMPs, die selbst in Dutzenden oder Hunderten von Kilometern Entfernung von der Explosion erhebliche Schäden an Elektronik verursachen können. EMPs sind in drei Phasen unterteilt: E1, die zerstörerischste und kürzeste Phase, die ungeschützte Elektronik sofort zerstört; E2, länger anhaltend, aber weniger zerstörerisch; und E3, die am längsten andauernde Phase, die hauptsächlich lange Leiter und Energieinfrastrukturen betrifft. Der Artikel schlägt vor, Faradaysche Käfige und ähnliche Methoden zum Schutz elektronischer Geräte zu verwenden, und weist darauf hin, dass moderne Geräte deutlich anfälliger für EMP-Schäden sind als ältere Technologien.